恒電位儀是采用微型單片計算機作為控制部件，采用適合于工程應用的新的算法的智能儀器。它應用于各種地下、水下金屬結構及各種金屬容器的外加電流陰極保護，可延長(cháng)被保護金屬的使用壽命。它還可以用作電鍍、電解等工業(yè)中的智能電源，以達到進(jìn)一步節能及提高產(chǎn)品質(zhì)量之目的?？赏瑫r(shí)控制同一電解池中的兩個(gè)工作電極的電位，其典型應用是旋轉環(huán)盤(pán)電極，也能被用于其它需要雙工作電極的情況下。儀器只能用于同一溶液中的兩個(gè)工作電極的電位控制以及電流測量，而不是兩個(gè)獨立的恒電位儀。儀器內含快速數字信號發(fā)生器，用于...

電導率測定儀是一款面向于醫用多效蒸餾水系統，鍋爐底水、凝結水，熱交換系統，機械零部件的工業(yè)熱清洗，工業(yè)循環(huán)水等在較高溫度環(huán)境運行的水質(zhì)管理和自動(dòng)化控制而開(kāi)發(fā)的一款寬溫度范圍的在線(xiàn)水質(zhì)分析儀表。電導率測定儀的使用注意事項1.在測量純水或超純水時(shí)為了避免測量值的漂移現象，建議采用密封槽進(jìn)行在密封狀態(tài)下的流動(dòng)測量，如采用燒杯取樣測量則會(huì )產(chǎn)生較大的誤差。2.電極插頭座應絕對防止受潮，儀表應安置于干燥環(huán)境，避免因為水滴濺射或受潮引起儀表的漏電或測量誤差。3.電極應該定期進(jìn)行常數標定。4...

提到漿料粒度和Zeta電位分析儀，我們需要先了解一下zeta電位，Zeta電位基礎理論的zeta電位是帶電顆粒周?chē)娜芤褐袑⒏患瘞喾捶柕碾x子(即反離子)，其中一部分反離子與顆粒表面緊密結合，構成固定吸附層，又稱(chēng)Stern層;另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周?chē)芤褐?，構成擴散層。位于Stern層的反離子由于強大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱，形成了擴散層。兩層之間的邊界被定義為滑動(dòng)層或剪切層。顆粒做電泳運動(dòng)時(shí)，...

在線(xiàn)納米粒度儀是通過(guò)測量顆粒群的衍射光譜經(jīng)計算機處理來(lái)分析其顆粒分布的。它可用來(lái)測量各種固態(tài)顆粒、霧滴、氣泡及任何兩相懸浮顆粒狀物質(zhì)的粒度分布、測量運動(dòng)顆粒群的粒徑分布。廣泛用于石油化工、陶瓷、染料、水泥、煤粉、研磨材料、金屬粉末、泥沙、礦石、霧滴、乳濁液等粒度的測定。根據光學(xué)衍射和散射的原理，從激光器發(fā)出的激光束經(jīng)顯微物鏡聚集，針孔濾波和準直后，變成直徑約10mm的平行光束，該光束照射到待測的顆粒上，就發(fā)生了散射，散射光經(jīng)傅立葉透鏡后，照射到光電探測器上的任一點(diǎn)都對應于某一...

粒度儀測量是接收和識別顆粒對激光造成的散射光來(lái)實(shí)現的，復散射現象是散射光在傳播過(guò)程中又遇到其他顆粒并被二次散射的現象。根據米氏散射理論，一定粒徑的顆粒產(chǎn)生固定角度的散射光，直接接收和識別這些散射光將得到與之對應的準確的顆粒直徑。如果接收和識別的是復散射光信號，將得到錯誤的結果，同時(shí)降低系統的分辨力。真空是利用噴射泵在壓力水的作用下產(chǎn)生負壓產(chǎn)生的。其優(yōu)點(diǎn)是體積小、真空度高、安裝維修方便、可靠性好、不與紙漿直接接觸、使用壽命長(cháng)。粒度儀的選擇應先根據工況估算吸入真空流量，再根據吸入...

Zeta電位分析儀廣泛應用于納米材料，生物醫藥，精細化工，油漆涂料，食品藥品，航空航天，國防科技等行業(yè)。在納米材料方面主要是用于研究納米金屬氧化物，納米金屬粉，納米陶瓷材料的粒度對材料性能的影響；生物醫藥方面主要是分析從蛋白質(zhì)，DNA,RNA，病毒，道各種抗原抗體的粒度；精細化工方面主要是用于尋找納米催化劑的粒度分布，以降低化學(xué)反應溫度，提高反應速度；油漆涂料方面主要是用于測量油漆，涂料，硅膠，聚合物膠乳，顏料，油墨，水/油乳液，調色劑，化妝品等樣品中納米顆粒物的粒徑；食品藥...

電化學(xué)工作站是電化學(xué)測量系統的簡(jiǎn)稱(chēng)，是電化學(xué)研究和教學(xué)常用的測量設備。其主要有2大類(lèi)，單通道工作站和多通道工作站，區別在于多通道工作站可以同時(shí)進(jìn)行多個(gè)樣品測試，較單通道工作站有更高的測試效率，適合大規模研發(fā)測試需要，可以顯著(zhù)的加快研發(fā)速度。應用于生物技術(shù)、物質(zhì)的定性定量分析等。為什么要校準電化學(xué)工作站1直流性能直流誤差是一種偏移誤差。也就是說(shuō)，該誤差是由電子元件微小恒定的直流偏置產(chǎn)生的。直流性能會(huì )隨著(zhù)時(shí)間和溫度偏移。例如，如果把儀器放置在比在工廠(chǎng)校準時(shí)更熱或更冷的實(shí)驗室環(huán)境，...

在實(shí)踐中，納米粒度儀用于確定粒徑的各種測試方法，除了顯微鏡和全息術(shù)之外，不觀(guān)察單個(gè)粒子，而是確定粒子系統的粒度相關(guān)性質(zhì)，然后計算第一章粉末。材料的粒度和測量的基礎粒度值。即使在微觀(guān)和全息方法中，單個(gè)理論定義也不用于觀(guān)察單個(gè)粒子，并且直接使用一些人工定義的等效直徑。為了表征顆粒的尺寸，通常使用等效的顆粒尺寸，也稱(chēng)為等效顆粒尺寸。當顆粒具有與均勻球體相同的特性時(shí)，顆粒的等效顆粒尺寸是指假定相同的球體直徑。對于不規則形狀的顆粒，其顆粒尺寸是測量方向的函數，并且是物理測量方法的函數，...