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簡(jiǎn)要描述:微區電化學(xué)阻抗測試系統LEIS370/470結合了電化學(xué)阻抗EIS技術(shù)和微區掃描技術(shù),可以的測試局部微區的阻抗以及相應參數。
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詳細介紹
微區電化學(xué)阻抗測試系統LEIS370/470
微區電化學(xué)阻抗測試系統LEIS370/470
應用:
* 薄膜阻抗復雜成像
* 池生長(cháng)介質(zhì)直接成像
* 光點(diǎn)化合反應特征化
* 電池
* 傳感器
* 金屬以及合金的鈍化
* 燃料池
* 腐蝕
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