納米粒度和Zeta電位分析儀測試范圍使用領(lǐng)域研究機制

　　

　　可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位

　　

　　可測定固體zeta電位

　　

　　寬粒徑范圍(0.6nm~10μm)，寬濃度范圍(粒徑測試：0.00001%~40%，zeta電位測試：0.001%~40%)

　　

　　可測量稀釋或濃縮的懸浮液

　　

　　用戶(hù)友好的軟件

　　

　　多種樣品池選擇

　　

　　可選擇一次性樣品池

　　

　　結合線(xiàn)性相關(guān)器和對數相關(guān)器相結合的技術(shù)對各種樣品進(jìn)行表征

　　

　　可選擇自動(dòng)滴定裝置控制懸浮液PH值

　　

　　納米粒度和Zeta電位分析儀使用領(lǐng)域研究機制：

　　

　　半導體

　　

　　研究半導體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。

　　

　　醫藥和食品行業(yè)

　　

　　乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。

　　

　　陶瓷和顏料工業(yè)

　　

　　表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無(wú)機溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

　　

　　聚合物和化工領(lǐng)域

　　

　　乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途）。電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過(guò)程研究，紙漿添加劑研究。